Пробоподготовка для спектроскопии

Подробное описание pdf

Пробоподготовка  используется в таких областях, как материалография, микроскопия, спектроскопия, хроматография, рентгеноструктурный и рентгенофлуоресцентный анализ,  масс-спектрометрия, минералогические исследования, инструментальный и мокрый химический анализ и многих других.

Оптико-эмиссионная (OES)  и рентгено-флуоресцентная (XRF) спектрометрия являются наиболее широко используемыми технологиями для анализа химического состава металлов и твердых образцов. Пробоподготовка металлов и материалов становится все более и более важной задачей, поскольку быстрое развитие и усовершенствование как программного обеспечения, так и приборов для оптико-эмиссионной (OES)  и рентгено-флуоресцентной (XRF) спектрометрии за последние несколько лет  привели к тому, что часто анализ ведется на пределе определения следовых концентраций элементов. Для этих условий критически важным является иметь правильно подготовленные образцы. 

Образцы для спектрального анализа  должны быть представительными, гомогенными и иметь ровную поверхность для того, чтобы устранить факторы, влияющие на результаты анализа.

Для получения достоверных и точных результатов спектрометрических анализов металлов и их сплавов важно провести качественную предварительную подготовку поверхности исследуемых образцов. ООО РВС предлагает высокоточное оборудование Metkon для ручной и автоматической пробоподготовки: от настольных дисковых шлифовальных станки, до сложных фрезеровальных комплексов, входящих в состав современных автоматизированных систем. Оборудование Metkon спроектировано с учетом текущих требований к качеству поверхности подготавливаемого образца для дальнейшего спектрального анализа.